
Тема «репортаж о событии»



22 сентября в стенах МИЭМ НИУ ВШЭ состоялся очередной семинар по Безопасности искусственного интеллекта по теме «Биометрия по рисунку вен: проблемные вопросы и пути их решения в период импортозамещения». Семинар прошёл при поддержке НСПК "Мир" в рамках развития совместной программы магистратуры МИЭМ и Центрального банка «Информационная-безопасность в кредитно-финансовой сфере».



.jpeg)
